La microscopie électronique à balayage

[dropcap]C[/dropcap]et ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l’étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l’utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu’industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d’utilisation. Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tous types de matériaux et nanomatériaux quel que soit leur état : sec, humide, isolant, conducteur…

Cet ouvrage s’articule autour de trois parties : une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l’expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l’imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.

Cet ouvrage, co-signé de Lahcen Khouchaf, chercheur à IMT Lille Douai, est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM).

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La microscopie électronique à balayage
sous environnement gazeux (MEB-EG)
Du principe à l’étude optimisée des matériaux
Lahcen Khouchaf, Christian Mathieu
Ellipses, 2017
Coll. « Formations et techniques »
240 pages
55 €

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